連接器測試程序的三個考慮因素!
連接器測試程序的三個組成部分為調節、曝光和測量,在任何模擬連接器應用程序的嘗試中都必須考慮這些組件中的每一個流程,本文鑫鵬博連接器廠家主要為大家分享連接器測試程序的三個考慮因素!
一、調節是旨在將連接器置于代表應用程序使用壽命的特定階段過程,最常見和最直接的調節程序是連接器的配合和拔出。而使用連接器的基本原因是需要可分離性,連接器出于各種原因的配合和拔出,出于制造原因、在組裝完整系統之前對各種組件或子系統進行測試,或者為了促進系統的升級或維修,可能需要可分離性。此類應用通常需要少量的配合循環,因為便攜產品可能需要可分離性。
連接器的配合和拔出至少模擬兩種應用條件:耐久性和配合/拔出力作為產品壽命的參數,耐用性即磨損過程導致的配合和拔出對接觸光潔度的影響可以說是兩種模擬中更重要的,根據本指南模擬應用需要確定有多少配合周期代表該應用,一該數字決定了屬于規范范圍內的應用范圍。
二、連接器測試曝光條件的選擇要復雜得多,包括兩個主要方面,即與應用環境相關的暴露條件,以及與預期產品壽命相關的暴露持續時間。暴露條件的問題是應用環境模擬的適當性,對持續時間的關注是可用于定義測試時間和現場壽命之間關系的知識水平,換句話說就是加速因子。
就環境和持續時間而言,應用熱條件的模擬相對簡單,將測試溫度提高到超過應用環境的溫度可以加速該過程。而腐蝕過程的模擬要復雜得多,在給定應用環境中起作用的腐蝕機制取決于環境的組成、溫度和濕度,腐蝕暴露被視為正確模擬貴金屬成品連接器的應用環境。
然而,評估機械穩定性的暴露并沒有很好的定義,沖擊以及振動這兩種主要的暴露方式,都沒有很好地描述應用環境的模擬,這種限制意味著加速因子不可用,在確定連接器測試結果的價值時必須考慮限制的影響。
三、連接器測試協議中最常見及最重要的測量是接觸電阻,特別是低電平接觸電阻(LLCR)。本質上,LLCR測量是在足夠低的開路電壓(20 毫伏)下進行的,在該電壓下,任何表面薄膜都不會發生電氣中斷。因此,電阻測量對表面薄膜和污染物的任何影響都很大,使用電阻測量的兩種方法是測試期間接觸電阻的允許變化,以及測試后最大接觸電阻的失效標準。由于普遍缺乏接觸電阻的適當失效標準的知識,連接器測試協議使用允許的變化Delta R方法。
連接器性能評估需要對測試協議進行更復雜的評估,例如,如果產品生命周期內的預期產品匹配周期數為500,并且測試規范條件要求100個周期,則無法做出決定。另一方面,如果協議要求500或1000次循環,則測試驗證了對耐久性的性能評估的接受。
雖然連接器測試程序過于昂貴和耗時,不能充分利用此類程序可以提供的信息,測試協議應包括盡可能廣泛的連接器應用。但好處是提供接觸電阻數據分布而不是最大Delta R,以便對接觸電阻穩定性進行更明確的統計評估。
此外,連接器產品的最終選擇可以通過連接器制造商提供的測試和最終規格表來確定,應了解技術規范做出最明智和最有見地的決定,并最終選擇最佳性能的連接器產品。
上文講解連接器測試程序的三個考慮因素就分享到這里了,如果想了解連接器行業其他方面的知識可以關注鑫鵬博電子科技有限公司的官方網站或微信公眾號。深圳市鑫鵬博電子科技有公司是集研發、生產、銷售、服務于一體的精密接插件及線束的專業生產連接線連接器廠家,20年專業于高質量的連接器、排針排母連接器、簡牛牛角連接器、D-SUB連接器、RJ45連接器、FPC連接器、USB連接器,連接線、端子線、注塑線、各種電子線束等的生產研發,產品品種已20000余種,完全能夠滿足各類高端客戶的需求。咨詢熱線:0755-29055299!
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