當(dāng)連接器性能可靠性的評估是目標(biāo)時，連接器的基本質(zhì)量則是關(guān)鍵，必須知道故障標(biāo)準(zhǔn)，以設(shè)計符合應(yīng)用要求的連接器產(chǎn)品。本文鑫鵬博連接器廠家主要為大家分享連接器性能可靠性的評估標(biāo)準(zhǔn)！

接觸電阻的變化可以說是評估連接器系統(tǒng)性能和可靠性的最重要標(biāo)準(zhǔn)，連接器出現(xiàn)故障的方式有很多種，系統(tǒng)性故障是設(shè)計和材料選擇的結(jié)果，缺陷包括不良的焊點、彎曲的引腳和不充分的電鍍等。在這種情況下，缺陷是制造或組裝過程的結(jié)果，此類故障通常在短暫的現(xiàn)場使用后突然發(fā)生。

連接器初始設(shè)計中的接觸力不足是由于彈簧材料選擇不當(dāng)，應(yīng)力松弛導(dǎo)致的接觸力損失，由于外殼蠕變導(dǎo)致的接觸力損失。另一種材料選擇不當(dāng)是鍍層厚度不足以達到預(yù)期的使用壽命或工作溫度，以及這些和其他設(shè)計/材料選擇的變體或組合。

連接器具備可靠性的體現(xiàn)是必須避免故障問題，而故障可能表現(xiàn)為最初的高電阻或接觸電阻的突然急劇增加。相比之下的系統(tǒng)性故障通常會隨著時間的推移而發(fā)生，其特征是在接觸電阻性能穩(wěn)定一段時間后，接觸電阻會增加，可能以增加的速度增加；或通過間歇性的高阻力事件。因此，可以合理地預(yù)期接觸電阻測量和接觸電阻標(biāo)準(zhǔn)的可接受變化可能會提供一種評估連接器性能隨時間推移的方法。

連接器質(zhì)量可靠性的鑒定測試協(xié)議通常需要低電平電路電阻(LLCR) 測量，其中開路測量電壓保持在20毫伏。由于連接器接觸表面上可能存在各種退化過程，該電壓水平有時稱為干電路，可確保施加的電壓不足以破壞任何薄膜。

然而，這個協(xié)議沒有檢測到上面確定為接觸電阻退化指標(biāo)的電阻間歇，劣化的接觸界面通常會表現(xiàn)出接觸電阻隨時間的增加，更重要的是它還將顯示間歇性頻率的增加以及每個事件的阻力變化幅度隨時間的增加。

傳統(tǒng)的接觸電阻測量只能檢測到接觸電阻的整體逐漸增加，要檢測間歇性接觸電阻模式，需要更復(fù)雜的測量協(xié)議。可能需要以減少的采樣時間進行連續(xù)測量，以捕捉不斷變化的接觸電阻的間歇性質(zhì)。

總結(jié)：導(dǎo)致接觸電阻增加的接觸界面退化機制必須考慮，特別是在嘗試為給定應(yīng)用領(lǐng)域得出可接受的接觸電阻變化時必須考慮的一些主要因素，這是通過測試協(xié)議評估連接器性能和可靠性的關(guān)鍵參數(shù)。

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